Huace450P高低溫介電溫譜儀由華測儀器多位工程師多年開發，其具有不錯的測試功能，設備測試頻率可達30MHz，采用直接聯接阻抗分析儀以減少測試導線的影響，同時電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網諧波對測量儀表的干擾。同時測試功能上也可擴展擊穿測試、TSDC等測量功能。它能夠在不同測量條件和測量模式下進行連續和高速的測量！
鐵電分析儀
Huace FE-Touch（標準型）
產品介紹
測量功能與技術參數
儀器具備的測試功能
信號電平監測
儀器配置
儀器配置
接口
分析儀環境指標
測量電路保護
工作環境
非工作環境
阻抗分析儀測量
測量曲線（部分）
DHM 動態電滯回線測量
CVM CV測量
LM 漏電流測量
FM 疲勞測試
PM 脈沖測量
PYM 熱釋電測量★
DTS 介電溫譜測量★
RT 電阻測量★
PZM 壓電測量
CHM 靜態電滯回線測量
IM 印跡測量
RM 保持力測量
BDM 擊穿測試★
TSDC 熱刺激電流測量
ECM 電卡測試★
POM 油浴極化★
Huace FE系列鐵電測試系統在±500V內置電壓下，電滯回線測試頻率可高達500KHz；此系統包含HuacePro基本鐵電管理測試軟件。此外還可外部擴展電壓到4kV、10kV、20kV，Huace FE主機在不改變樣品連接的情況下可執行電滯回線，脈沖，漏電流，IV、CV、擊穿測試，也可加載選件實現壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測量等特性測試功能。內置完整的專用工控計算機主機、測試版路、運算放大器、數據處理單元等，包括專用工控計算機主板、CPU(i5 及以上)、RAM(8G 及以上)、固態硬盤(250G 及以上)、網卡、USB 接口、DVD 光驅、 VGA 接口、預裝 Windows 7 操作系統、鐵電分析儀測試軟件等。
每一款儀器都配備精度高的電阻、電容測試模塊?？蓪崿F儀器的自行校準，讓測試數據完善！
優點1
高頻率的測量
提升了內置放大器的輸出頻率、采用FPGA高速采集，實現電滯回線可達500KHz的測試頻率?？蛇_40M的高速采集。同時內置的高速信號發生裝置，硬件支持脈沖100ns的波形觸發，極大提升了脈沖測試速度。
優點2
多項測量功能
比現有的鐵電分析儀，增加了TSDC、熱釋電、電卡、阻抗、電阻、擊穿等測量功能。預留4通道高速接口，方便擴展高低溫測試環境。
優點3
質量管控
嚴格做好每一款產品質量把控，從原器件采購、到生產過程的質量控制,到產成品計量檢測,嚴格質量把控,實現生產合格的科研儀器。
優點4
售后服務體系
整機保修三年，7X24小時在線服務。預裝遠程服務軟件，實現遠程升級、維護等。
可擴展部件：
塊體材料測試高壓放大器選件：
典型用戶
厚膜及塊體材料壓電測試（蝴蝶曲線和d33）激光干涉儀選件：
配件選擇：
校準與擴展
塊體測試夾具
用于厚膜、塊體鐵
電、擊穿測試）
HCAM-10
電壓范圍±10kV
電流范圍 0-20mA
頻率max：5KHz
電壓范圍±10kV
電流范圍 0-20mA
頻率max：5KHz
西安某大學功能材料試驗室
SIOS 激光干涉儀單通道光學探頭
分辨率min： 0.3nm
形變測試范圍 100nm-2579.50μm）
形變測試范圍 100nm-2579.50μm）
冷熱臺 探針臺 極化油水浴 高壓導線 高壓保護模塊 加溫測量電極
擊穿保護max 測量電路耐壓max值：25kV
注 : 對于外接TREK高壓放大器進行測試時，請參考華測生產的高壓防護模塊，對TPEK高壓放大器進行擊穿時的保護。
校準
用戶校準 使用儀器標配的標準電阻、電容測試校準模塊進行校準
設備擴展 設備可與高低溫冷熱臺、高溫測試裝置、探針臺、高壓放器器、高阻計、阻抗分析儀、 激光干涉儀溫控控制器、數字源表等儀器擴展
薄膜四探針探針臺
（室溫到 200℃）
（可用于厚膜鐵電、壓電（e31）、熱釋電測試）
（室溫到 200℃）
（可用于厚膜鐵電、壓電（e31）、熱釋電測試）
Trek 609E-6
電壓范圍±4kV
電流范圍 0-20mA
頻率max： 6000Hz
電壓范圍±4kV
電流范圍 0-20mA
頻率max： 6000Hz
西北某大學
薄膜寬溫區探針冷熱臺
（-196℃到+600℃）
（可用于薄膜和厚膜變
溫的鐵電和熱釋電測試）
（-196℃到+600℃）
（可用于薄膜和厚膜變
溫的鐵電和熱釋電測試）
薄膜探針臺
（室溫鐵電測試）
（可用于薄膜和厚膜
室溫鐵電性能測試）
（室溫鐵電測試）
（可用于薄膜和厚膜
室溫鐵電性能測試）
Trek 610E
電壓范圍±10kV
電流范圍 0-2mA
頻率max： 600Hz
電壓范圍±10kV
電流范圍 0-2mA
頻率max： 600Hz
注 : 標★號為華測生產的鐵電分析儀增加的軟件測量功能！
Huace FE-2000 擴展型
某集團中科芯集成電路
華某
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