功能材料電阻測量中重要的穩定性
溫度波動小于±0.25℃，抗干擾性能提升300倍
高溫介電溫譜測試儀
紅外鍍金聚焦爐是利用高能量密度的紅外光源作為加熱源的 輻射加熱爐。爐體由鋁合金制成，紅外線反射面拋光，鍍金，反光高。同時配置水冷裝置。
10英寸觸摸屏一體機
爐膛升降裝置
控制系統
真空、氣氛、
水循環接口
阻抗分析儀
減弱電網諧波對采集精度的影響
減弱不規則輸入的自動平均值功能 數據處理及內部屏蔽
專用高頻測試線纜，適合高頻測量
高溫介電溫譜測試系統運用三電極法設計原理測量。重復性與穩定性較高，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提升測試參數的精度，同時抗干擾能力較強。本設備也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
搭配Labview系統開發的Huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置，可以實現壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以實現測試過程的安全；資料保存機制，當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數據，設備重新啟動后可恢復原有試驗數據。
華測系列阻抗分析儀采用單測和分析兩種界面，讓測試簡單。得益于自動平衡電橋技術，在10Hz-50MHz的頻率范圍可以保持在0.05%的基本精度。 快達5ms的測試速度及高達50M的阻抗測試范圍可以達到元件與材料的測量要求，有利于低損耗(D)電容器和高品質因數(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可減小測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規端配置的儀器向下擴展了十倍。
測試引線使用4端子對配置以擴展測量端口，附帶BNC陽頭連接板，用于連接高溫爐的測試夾具，同時測試線采用高頻測試測試線，設計兩層屏蔽。適合高頻介電參數測量。
目前電網中大量使用變頻器等高頻、高功率設備，將對電網造成諧波干擾。從而在高頻、弱信號測量過程中影響弱信號的采集，華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及采用特殊參數分析技術,實現了高達120MHz的高頻測量。
支持遠程協助系統、
支持真空、環境氣氛
優勢①
優勢②
優勢③
它可以勻速、階梯（升\降溫）、循環沖擊，真空、氣氛等多種的加熱方式。
采用移相觸發技術，可實現控制精度波動±0.25°c以內。
加熱速度較勻、較快，同時它可以提供了材料較多的測試環境。
加溫方式
擴展能力較強，實現一機多用
設備優勢
目前高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，主要原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱，加熱與降溫過程速度慢，效率低下。也無法實現溫度的測量，加熱區域也存在不均勻的現象，華測儀器通過多年研究開發了一種可實現精度高，高反射率的拋物面與高質量的加熱源相配置，在高速加熱及高速冷卻時，具有良好的溫度分布。 可實現寬域均熱區，高速加熱、高速冷卻 ，用石英管保護加熱試樣，無氣氛污染?？稍诟哒婵?，高純度氣體中加熱 。設備可組成均熱高速加熱爐，溫度斜率爐，階段加熱爐。
它提升了加熱試驗能力。 同電阻爐和其他爐相比，紅外線反射爐節省了升溫時間和保持時間及自然冷卻到室溫所需的時間，在試驗中也可改寫設定溫度值。從各方面講，都節省試驗時間并提升實驗速度。
同高頻爐相比，不需要特殊的安裝條件及對加熱試樣的要求。同電阻爐一樣安裝簡單，有冷卻系統安全可靠。以提升試驗人員的工作效率，實現新的溫度控制操作！
它提升了加熱試驗能力。 同電阻爐和其他爐相比，紅外線反射爐節省了升溫時間和保持時間及自然冷卻到室溫所需的時間，在試驗中也可改寫設定溫度值。從各方面講，都節省試驗時間并提升實驗速度。
同高頻爐相比，不需要特殊的安裝條件及對加熱試樣的要求。同電阻爐一樣安裝簡單，有冷卻系統安全可靠。以提升試驗人員的工作效率，實現新的溫度控制操作！
█ 多功能真空加熱爐，可在高溫、真空、氣氛環境下進行測試；
█ 采用鉑材料作為導線、以減少信號衰減、提升測試精度；
█ 可以測量絕緣材料的電阻、電阻率；
█ 可實現常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T、R-t等測量功能；
█ 溫度傳感器、PID自動溫度控制，使測量溫度可靠；
█ 近紅外加熱，樣品受熱均勻，不存在感應電流，達到較好的測量；
█ 10寸進口觸摸屏設計，一體化設計機械結構，穩定、可靠；
█ 溫譜與階梯恒壓測量兩種測試模塊，科學；
█ 99氧化鋁陶瓷絕緣、鉑金電極；
█ huace pro 控制分析軟件與功能測試平臺系統相互兼容。
高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統，增設氣體冷卻裝置，可實現快速冷卻。
溫度控制
過紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用，可以控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。此外，冷卻速度和保持在其他溫度下可提供高的精度。
不同環境下的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環境、低溫（高純度惰性氣體,靜態或流動），操作簡單，使用石英玻璃制成。紅外線 可傳送到加熱/冷卻室。
不一樣的加溫方式及多種應用場景
設備測量參數
操作軟件
硬件配置
阻抗分析儀系列
普通參數
阻抗分析儀測量
測量曲線（部分）
高溫爐基本參數
溫度范圍： RT-800 (max：1650)°C
控溫精度：±0.25°C
升溫斜率：10°C/min（可設定）
測試頻率 : 10Hz~120MHz
加熱方式：近紅外加熱
冷卻方式：水冷
輸入電壓：110~220V
樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm
電極材料：鉑金
夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷
絕緣材料：99氧化鋁陶瓷
測試功能：介電溫譜、頻譜
數據傳輸：4個USB接口
設備尺寸：600x500x350mm
ε介電常數、（ε'、ε''介電常數實部與虛部）、C電容、(C’、C''電容實部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R''電阻實部與虛部）、Z、（Z'、Z''阻抗實部與虛部）、Y導納、Y’、Y''（導納實部與虛部）、X電抗、Q品質因數、cole-cole圖譜、機電耦合系數Kp、等一系列測量參數及介電溫譜與頻譜等測試功能。
測試系統的軟件平臺 Huacepro ，采用labview系統開發，符合功能材料的各項測試需求，具備較強的穩定性與操作安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料也可保存恢復。兼容XP、win7、win10系統。
█ 多語介面：支持中文/英文 兩種語言界面；
█ 狀態監控：系統測試狀態瀏覽；
█ 圖例管理：通過軟件中的狀態圖示，對狀態說明，了解測試狀態；
█ 使用權限：可設定使用者的權限，方便管理；
█ 故障狀態：軟件具有設備的故障報警功能。
█ 試驗報告：自定義報表格式，一鍵打印試驗報告，可導出EXCEL、PDF格式報表
軟件兼容：Keithley（6487、6514、6517b）、Keysight （B2985A、B2987A）、同惠（2683A、2684A）
█ 多語介面：支持中文/英文 兩種語言界面；
█ 狀態監控：系統測試狀態瀏覽；
█ 圖例管理：通過軟件中的狀態圖示，對狀態說明，了解測試狀態；
█ 使用權限：可設定使用者的權限，方便管理；
█ 故障狀態：軟件具有設備的故障報警功能。
█ 試驗報告：自定義報表格式，一鍵打印試驗報告，可導出EXCEL、PDF格式報表
軟件兼容：Keithley（6487、6514、6517b）、Keysight （B2985A、B2987A）、同惠（2683A、2684A）
█ 集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ雙核處理器
█ 集成打機印接口，可擴充8個USB接口
█ 支持16G內存，60G固態硬盤，讓系統運行流暢
█ 集成打機印接口，可擴充8個USB接口
█ 支持16G內存，60G固態硬盤，讓系統運行流暢
模式選擇：根據等效電路可選擇并聯模式和串聯模式;
測量方式：軟件可進行介電溫譜與介電頻譜;
溫度設置：可設置升溫速度、降溫速度、溫度max值、測量等待時間等;
測量參數：ε介電常數、（ε'、ε''介電常數實部與虛部）、C電容、(C’、C''電容實部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R''電阻實部與虛部）、Z、（Z'、Z''阻抗實部與虛部）、Y導納、Y’、Y''（導納實部與虛部）、X電抗、Q品質因數、cole-cole圖譜、機電耦合系數Kp、等；
測量頻率：軟件可設置測試的頻率；
數據處理：測量數據生成Excel及pdf兩種文件格式；
圖像處理：測量曲線可保存。
測量方式：軟件可進行介電溫譜與介電頻譜;
溫度設置：可設置升溫速度、降溫速度、溫度max值、測量等待時間等;
測量參數：ε介電常數、（ε'、ε''介電常數實部與虛部）、C電容、(C’、C''電容實部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R''電阻實部與虛部）、Z、（Z'、Z''阻抗實部與虛部）、Y導納、Y’、Y''（導納實部與虛部）、X電抗、Q品質因數、cole-cole圖譜、機電耦合系數Kp、等；
測量頻率：軟件可設置測試的頻率；
數據處理：測量數據生成Excel及pdf兩種文件格式；
圖像處理：測量曲線可保存。
|
|
