高溫、精度高、性能高測試儀
HGTZ-800系列
高溫低電阻測試儀
紅外加熱、
支持真空、氣氛環境
優勢①
優勢②
優勢③
多功能真空加熱爐，一體爐膛設計、可實現、高溫、真空、氣氛環境下進行測試。
高溫低電阻測試儀可以實現高溫下的勻速、階梯、降溫下的大部分溫度范圍的測試。
高溫低電阻測試儀可實現小于±0.25℃溫度測量誤差（限反射爐）。
公司開發的高溫低電阻測試系統軟件將高溫測試平臺、高溫測試夾具與keithley（吉時利）系列、2400、2450、2600系列源表測量設備連接。
產品介紹
產品特點
功能特點
功能特點
HEST-900高溫低電阻測試儀器采用四端測量方法在高溫環境下對導電及半導電材料的電阻進行評估，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數據，自動生成報表；本儀器可顯示電阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓配置不同的測試治具可以實現不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。
目前高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，這種方式也易存在感應電流，無法實現溫度精度高要求的測量，加熱區域也存在不均勻的現象，本設備在高速加熱高速冷卻時，具有良好的溫度分布。 可實現寬域均熱區，高速加熱、高速冷卻 ，用石英管保護加熱式樣，無氣氛污染?？稍诟哒婵?，高出純度氣體中加熱 。大大提升精度,也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
HGTZ-800系統搭配Labview系統開發的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設置，實現導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。
目前高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，這種方式也易存在感應電流，無法實現溫度精度高要求的測量，加熱區域也存在不均勻的現象，本設備在高速加熱高速冷卻時，具有良好的溫度分布。 可實現寬域均熱區，高速加熱、高速冷卻 ，用石英管保護加熱式樣，無氣氛污染?？稍诟哒婵?，高出純度氣體中加熱 。大大提升精度,也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
HGTZ-800系統搭配Labview系統開發的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設置，實現導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。
█ 多晶硅材料
█ 石墨功能材料
█ 石墨功能材料
█ 導電功能薄膜材料
█ 導電玻璃（ito）材料
█ 其它導電材料等。
█ 石墨烯材料
█ 半導體材料
█ 鍺類功能材料
█ 柔性透明導電薄膜。
█ 半導體材料
█ 鍺類功能材料
█ 柔性透明導電薄膜。
█ 多功能真空加熱爐，一體爐膛設計、可實現高溫、真空、氣氛環境下進行測試；
█ 采用鉑材料作為導線、以減少信號衰減、提升測試精度；
█ 可以測量半導體薄膜材、薄片材料的電阻、電阻率；
█ 可實現常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T等測量功能;
█ 溫度傳感器、PID自動溫度控制，使測量溫度比較可靠；
█ 儀器可自動計算試樣的電阻率pv；
█ 采用鉑材料作為導線、以減少信號衰減、提升測試精度；
█ 可以測量半導體薄膜材、薄片材料的電阻、電阻率；
█ 可實現常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T等測量功能;
█ 溫度傳感器、PID自動溫度控制，使測量溫度比較可靠；
█ 儀器可自動計算試樣的電阻率pv；
█ 10寸觸摸屏設計，一體化設計機械結構，穩定、可靠；
█ 程控電子升壓技術，紋波更低、TVS防護系統，保證儀器安全性；
█ 99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針；
█ huace pro 控制分析軟件。
高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統，增設氣體冷卻裝置，可實現較快速的冷卻。
溫度控制
過紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用，可以控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。此外，冷卻速度和保持在大部分溫度下可提供高的精度。
不同環境的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環境、低溫（高純度惰性氣體,靜態或流動），操作簡單，使用石英玻璃制成。紅外線 可傳送到加熱/冷卻室。
先后應用到清華大學材料學院、北京理工大學、同濟大學、中科院熱物理所、國防工程大學、山東大學、華南理工大學等。
勻速度加熱試驗 環境：氣氛 階梯式加熱試驗 環境：氣氛 階梯式加熱試驗 環境：氣氛
材料：陶瓷 材料：陶瓷 （僅反射爐） 材料：超材料
硬件配置
技術指標
軟件功能
整體為桌面型設計，可以實現實驗室無灰塵排放的要求。內置工控機、觸摸屏，可以利用工控機設定加熱曲線，并實現和其他測試設備的集成控制。定點控溫模式下，可以將樣品10s內加熱到1000攝氏度?？販丶訜嵯?，可以5度/s速率下線性加熱到1000攝氏度。在1000度下可以連續工作時間不低于1小時。采用鉑銠熱電偶直接測定樣品附近溫度。
樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環境下加熱。配備真空泵，水冷設備，配備超溫、缺水、過流等報警保護裝置。
溫度均勻區：60mm*100mm。
█ 集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ雙核處理器
█ 集成打機印接口，可擴充8個USB接口
█支持16G內存，60G固態硬盤，讓系統運行流暢
█ 集成打機印接口，可擴充8個USB接口
█支持16G內存，60G固態硬盤，讓系統運行流暢
測試系統的軟件平臺 Huacepro ，采用labview系統開發，符合絕緣材料的各項測試需求，具備較強的穩定性與操作安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料也可保存恢復。支持新的標準，兼容XP、win7、win10系統。
█ 多語介面：支持中文/英文 兩種語言界面；
█ 狀態監控：系統測試狀態瀏覽；
█ 多語介面：支持中文/英文 兩種語言界面；
█ 狀態監控：系統測試狀態瀏覽；
█ 圖例管理：通過軟件中的狀態圖示對狀態說明，了解測試狀態；
█ 使用權限：可設定使用者的權限，方便管理；
█ 故障狀態：軟件具有設備的故障報警功能。
溫度范圍：室溫-1000℃,(反射爐加溫)配水冷機)；
控溫精度：±0.5℃；
測量精度：±0.25℃；
升溫斜率：20℃/min （可設定）
降溫斜率：1-200℃/min (可自調整）；
測量精度：0.5%；
樣品規格：直徑：20mm以內；厚度：5mm以內；
電極材料：鉑金;
測量方式：2線-4線測量方式；
測量范圍：0.1uΩ-100MΩ
供 電：220V±10%，50Hz；
工作環境：0℃ - 55℃；
存儲條件:- 40℃-70℃；
尺 寸：750mmX660mmX360mm；
重 量：25 kg
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