專用于高低溫介電性能測量儀器
10年專注-只為用戶打造精準可靠的介電溫譜儀
HCJD-801高低溫介電溫譜測試儀
測量溫度：RT~800℃（最高1650℃）
測量頻率：10Hz~120MHz
溫控精度：±0.25℃
升溫斜率：10℃/min（可設定）
冷卻方式：水冷
HCJD-802高低溫介電溫譜儀
測量溫度：RT~600℃
測量頻率：10Hz~120MHz
溫控精度：±0.25℃
升溫斜率：10℃/min（可設定）
冷卻方式：水冷
HCJD-803教學研究型介電溫譜儀
測量溫度：RT~450℃/600℃
測量頻率：10Hz~1MHz
溫控精度：±0.25℃
升溫斜率：10℃/min（可設定）
冷卻方式：水冷
測量條件寬、測量功能廣、穩定可靠、擁有多項專利
實驗室評估電介質材料**測量系統
快達5ms的測試速度與高達50MHz的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測試要求，特別有利于低損耗（D）電容器和高品質因數（Q）電感器的測量。
加熱/冷卻可用真空、氣氛環境、低溫（高純度惰性氣體、靜態或流體），操作簡單。
得益于先進的自動平衡電橋技術，在10Hz-50MHz的頻率范圍可以保證0.05%的基本精度。
近紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用，可以**控制樣品的溫度（遠比普通加溫方式）。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供***。
解決了國外同類儀器只能分析，無法單獨測試的缺陷，采用單測和分析兩種界面，讓測試更簡單。
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫
實現了高達120MHz的高頻率測量，從而滿足了很多半導體，功能材料和納米器件的測試需求。
介電溫譜儀新升級
**的溫譜測試系統不僅可以提供單樣品/薄膜樣品測量測試系統平臺和多樣品塊體/薄膜樣品測量系統平臺，和可以提供不同的測量環境（如流動氣氛、真空氣氛、不用氧氣氛），以滿足科研多樣化的需求。
多款測量夾具可選
多款測量夾具可選
塊體樣品夾具
薄膜樣品夾具
單樣品夾具
四樣品夾具
評估材料介電性能通常采用平行板電容器原理，上下電極采用兩個平行板是最理想情況，但實際上在制作樣品和測量過程中樣品與電極兩個平面不可能完全接觸，通常只是一個或多個點接觸，如果某個接觸點導電性能不好就容易導致測量不穩定。為了避免以上現象，佰力博介電溫譜儀上電極采用半球狀，下電極采用平面，該電極系統可以**定位測量被測樣品某一點，從而使系統的重復性和穩定性**。
兼容多款阻抗分析儀
WK6500系列
Agilent4294A
AgilentE4980A
AgilentE4990A
TH2828S
介電溫譜測量系統需要搭配WK6500系列阻抗分析儀使用，
也可以兼容AgilentE4294A、E4980A、E4990A阻抗分析儀和TH2828S LCR
精準強大的介電測量軟件
可以直接測量樣品的介電常數和介電損壞隨溫度、時間、頻率變化的曲線，?可以測量阻抗譜隨溫度、時間、頻率變化的曲線，同時得出Cole-Cole圖和壓電材料的機電耦合系數等。
通過阻抗測量C值和D值，軟件可以自動計算出介電常數和介電損耗隨溫度、時間、偏壓、頻率變化的曲線，還可以直接得出介電常數實部和虛部的比值
通過阻抗測量Z值和φ值，軟件可以自動計算出復阻抗隨溫度、時間、偏壓、頻率變化的曲線，還可以直接得出復阻抗Cole-Cole圖。
通過阻抗測量Z值和C值，以及不同溫度下的諧振頻率和反諧振頻率，再通過軟件自動計算出機電耦合系數隨溫度、時間、頻率變化的曲線，軟件可以直接得出機械品質因數Qm。
. 介電常數和介電損耗
. 阻抗譜及Cole-Cole圖
. 介電常數和介電損耗
產品品牌識別
品牌識別
外觀識別
顏色識別
北京華測高低溫介電溫譜儀系列的產品上都會印上品牌標志以及產品型號。
北京華測高低溫介電溫譜測試系統的產品外觀都是****并且非常漂亮大氣的。
北京華測高低溫介電溫譜儀系列的產品顏色都是以白色為主色調。
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